検索結果書誌詳細：蔵書検索システム

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蔵書情報

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No.	所蔵館	資料番号	請求記号	所蔵場所	配架場所	帯出区分	状態	貸出
1	ミライｏｎ	1117066808	549.7/ﾆ-07/	３F	閉架図書	帯出可	在庫	○

この資料の書誌詳細情報です。

書誌種別	図書（一般）
著者名	二川清／著
著者名ヨミ	ニカワキヨシ
出版者	工業調査会
出版年月	2007.11
ページ数	221p 図版4枚
大きさ	21cm
ISBN	4-7693-1269-7
分類記号	549.7
書名	LSI故障解析技術のすべて
書名ヨミ	エルエスアイコショウカイセキギジュツノスベテ
副書名	開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
副書名ヨミ	カイハツソクシンブドマリコウジョウシンライセイコウジョウノキーテクノロジー
内容紹介	LSIの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。